服務熱線:0415-6171977

香港六合彩全年资料库 www.drokv.icu 薄膜分析
  X射線衍射對于研究外延層和其他薄膜材料具有特殊價值。采用精密的晶格參數的測量方法,可以很準確的確定晶格的外延層及其基底。在外延器件中晶格參數匹配或不匹配是一個重要因素如磁泡存儲器的磁性石榴石薄膜,LED用摻雜砷化鎵薄膜和高速晶體管和其他重要的電子產品。對于薄膜X射線衍射的另一個應用是使用高溫衍射通過測定晶格參數隨溫度的變化來確定熱膨脹系數。

上海时时哪里有卖 微信二人斗地主 深圳快乐彩技巧稳赚 北京pk10购买软件下载 pk10赛车计划软件手机 北京pk10冷热号走势图 两人炸金花技巧规律 北京pk赛车稳赚技巧7码 老彩迷稳赚不亏的方法 11选五胆拖投注价格表 买股票有稳赚不赔的方法吗 高手实战稳赚技巧 大乐透篮球有16吗 广东11选5计划软件apk 福彩3d什么是组选包胆 后一6码倍投方案表格